Ciencias Básicas y Tecnologías - Química · 2008
Crecimiento y caracterización de películas delgadas de Ni0.5Zn0.5Fe2O4 por medio de la técnica de pulverización catódica
En el último siglo el magnetismo adquirió gran importancia como herramienta de almacenamiento de información (memorias magnéticas), en el uso de trasformadores, motores, inductores, sensores, etc. En la última década adquirió relevancia para aplicaciones en medicina mediante la fabricación de películas delgadas de material orgánico, en este caso de polímeros de quitosan con el objetivo de reemplazar partes estructurales en sistemas vivos
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Contenido
- 1. INTRODUCCIÓNp. 8
- 2. PLANTEAMIENTO DEL PROBLEMAp. 10
- 3. JUSTIFICACIÓNp. 11
- 4. OBJETIVOSp. 12
- 4.1 OBJETIVO GENERALp. 12
- 4.2 Objetivos Específicosp. 12
- 5. ESTADO DEL ARTEp. 13
- 5.1 MATERIALES CERÁMICOSp. 13
- 5.1.1 Estructuras presentes en materiales cerámicosp. 13
- 5.2. LAS FERRITASp. 15
- 5.2.1 Ferritas hexagonalesp. 16
- 5.2.2 Ferritas tipo Granatep. 17
- 5.2.3. Ferritas espínelasp. 18
- 5.2.4 Espínelas Normales e Inversasp. 19
- 5.3 FERRITAS DE NiZnp. 20
- 5.4. FUNDAMENTOS DE MAGNETISMOp. 26
- 5.4.1 Origen del momento magnéticop. 26
- 5.4.2 Propiedades y fases magnéticasp. 27
- 5.4.3 Clasificación de los materiales magnéticosp. 28
- 5.4.4 Dominios magnéticos e histéresis magnéticap. 35
- 5.4.5 Histéresis magnéticap. 36
- 5.5. PELÍCULAS DELGADAS: CARACTERIZACIÓN Y FABRICACIÓNp. 38
- 5.5.1 Tipos de crecimientop. 38
- 5.5.2 Tensión de desacople en la interfasep. 40
- 5.5.3. La técnica de Pulverización catódicap. 42
- 5.6 TÉCNICAS DE CARACTERIZACIÓNp. 46
- 5.6.1 Difracción de rayos X (DRX)p. 46
- 5.6.2 Microscopía de fuerza atómica (AFM)p. 52
- 5.6.3 Sistema de medida MOKEp. 55
- 6. PARTE EXPERIMENTALp. 58
- 6.1 FABRICACIÓNp. 38
- 6.2. CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURALp. 63
- 6.2.1 Obtención de los difractogramasp. 63
- 6.2.2. Difracción de rayos X (ángulo alto)p. 64
- 6.2.3. Difracción de rayos X (ángulo bajo)p. 69
- 6.3 CARACTERIZACIÓN MORFOLÓGICAp. 73
- 6.3.1 Descripción cualitativa de las superficiesp. 74
- 6.4 CARACTERIZACIÓN MAGNÉTICAp. 76
- 6.4.1 Obtención de las curvas de Histéresisp. 76
- 7. ANALISIS Y RESULTADOSp. 80
- 7.1 Caracterización cristalográfica del Sistema Ni1-xZnxFe2O4p. 80
- 7.1.1. Efecto de la temperatura (serie No 1)p. 80
- 7.1.2. Efecto de la temperatura para diferentes substratos (serie No 2)p. 81
- 7.1.3. Efecto del tiempo de deposición (serie No 3)p. 83
- 7.2 CONFIRMACIÓN DE LA FASE ESPÍNELAp. 83
- 7.3 CÁLCULO DEL PARÁMETRO DE REDp. 84
- 7.4 CÁLCULO DE ESPESOR (FORMALISMO DE SNELL)p. 90
- 7.5 CARACTERIZACIÓN MORFOLÓGICAp. 73
- 7.6 CARACTERIZACIÓN MAGNÉTICAp. 76
- 8 CONCLUSIONESp. 103
- ANEXO 1p. 105
- ANEXO 2p. 108
- REFERENCIASp. 113